1.真空罩：提供一个真空环境，以减少空气对测量结果的干扰。
2.屏蔽罩：设置在真空罩内部，用于进一步隔绝外界因素对测量的影响。
3.辐射屏罩：位于屏蔽罩内部，是进行发射率测量的关键区域。
4.样品台：悬挂设置在辐射屏罩内部，用于放置被测样品。样品台包括电加热片以及分别设置在电加热片两侧的两个金属片，各金属片背向电加热片的一侧分别设有被测样品涂层，且各金属片上分别设有温度计，电加热片和各温度计分别与控温装置相连。
5.真空泵：与测试装置相连，用于抽取真空罩内的空气，维持真空环境。
6.制冷装置：同样与测试装置相连，可在需要时提供低温环境，以满足不同温度下的测量需求。
7.控温装置：与电加热片和温度计相连，用于精确控制样品的温度。
8.机械热开关装置：包括调节杆、固定盘和夹持机构等部分，用于调节样品的位置和角度，以便更好地进行测量。
9.补偿片：设置在样品台的上方，通过纤维线与样品台、辐射屏罩的顶板连接，用于对测量结果进行补偿和修正。
此外，还有一些辅助设备如温度传感器、数据采集系统等，用于实时监测和记录测量过程中的温度和其他相关参数。这些组成部分共同协作，构成了一个完整的半球发射率测试系统，能够实现对材料在不同温度下的半球发射率的准确测量。
